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XRD原位冷熱臺(tái)是一款X-射線衍射儀的變溫測(cè)試附件，可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測(cè)試的溫度范圍：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空氣 / 惰性氣體 / 真空的環(huán)境條件下進(jìn)行測(cè)試。
一、儀器介紹：
XRD原位冷熱臺(tái)是一款X-射線衍射儀的變溫測(cè)試附件，可實(shí)現(xiàn)樣品變溫測(cè)試的溫度范圍：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空氣 / 惰性氣體 / 真空的環(huán)境條件下進(jìn)行測(cè)試。
適合于粉末、片材樣品在變溫下進(jìn)行X-射線結(jié)構(gòu)研究，支持在現(xiàn)有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學(xué)等）上定制樣品架進(jìn)行適配。
二、儀器主要技術(shù)參數(shù)：
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型號(hào) |
CH600-190-XV |
H1200-XV |
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溫控模塊 |
冷熱方式 |
液氮致冷，電阻加熱 |
電阻加熱 |
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溫控范圍 |
-190～600℃ * |
RT～1200℃ * |
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溫度穩(wěn)定性 |
±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）* |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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升降溫速率 |
0~50℃/min（可定點(diǎn) / 程序段控溫） |
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溫控方式 |
PID |
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溫度傳感器 |
PT100 |
熱電偶 |
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光學(xué)特性 |
光路 |
反射 * |
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X射線透射膜 |
Kapton膜 |
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結(jié)構(gòu)特性 |
樣品臺(tái)尺寸 |
23×23mm * |
12x12mm * |
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樣品臺(tái)材質(zhì) |
銀質(zhì) * |
陶瓷 * |
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外形尺寸 |
100×100×73mm * |
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腔室 |
真空 |
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外殼冷卻 |
循環(huán)水 |
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基本配置 |
XRD原位冷熱臺(tái)x1、溫度控制器x1、致冷控制器x1（低溫配置）、液氮罐x1（低溫配置）、定制支架x1、溫控軟件x1、循環(huán)水系統(tǒng)x1、連接管路若干 |
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選配 |
電腦主機(jī)/定制溫控軟件/定制光學(xué)蓋板 |
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備注 |
以上均為默認(rèn)參數(shù) * 為可定制項(xiàng) |
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其他可選型號(hào) |
CH400-100-X（-100~400℃） |
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